视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –

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NANOSENSORS的Pointprobes是第一个商业化量产的硅原子力显微镜探针。从1991年进入市场开始，他们就成为了这一领域的标杆。 PointProbePlus探针在非接触模式和轻敲模式的应用中取得了巨大的成功，并且在此基础上发展出一系列更高端的AFM探针。 PointprobePlus是Pointprobe的增强版，它有着更为一致的针尖形状从而保证了更为可靠的成像结果。而且针尖的尖端性能进一步提升，其半锥角达到了10度，而尖端半径小于7nm。

基于PointProbePlus针尖，我们提供一些特别定制的AFM探针。

SuperSharpSilicon探针是在PointProbePlus探针的基础上，通过尖端锐化技术，使其针尖的曲率半径小于2nm。
该探针在特征尺度为几十纳米的样品表面，可以实现最高的分辨率。

High Aspect Ratio tips 高长径比探针是在PointProbePlus的基础上，通过聚焦离子束研磨，在针尖的尖端1到两微米形成超小的锥角。
它们是专为半导体应用中，沟槽或通孔的表征而设计的。

硬磁或软磁性涂料可以把PointProbePlus转变为磁力显微镜探针。

金刚石涂层则可以极大地增加探针的耐磨损性，从而使针尖样品间作用力很高的测量成为可能。

另外，掺杂的金刚石针尖是导电的，这种探针也适用于导电测量模式，例如扫描扩展电阻显微镜。