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July 2014

视频介绍 – Uniqprobe原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™

视频介绍 – Uniqprobe原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ 在 Youtube 和在 Youku http://v.youku.com/v_show/id_XNzA4MTgxNTI4.html?from=y1.7-1.2 NANOSENSORS公司的吴烨娴博士在本视频中介绍了Uniqprobe原子力显微镜探针。Uniqprobe 探针 的悬臂梁厚度均一,并且有局部的金反射涂层。这两个特点使得这个探针在一些对弹性系数有精确要求的应用中, 表现出卓越的机械性能一致性 。该探针特别适用于分子生物学,生物物理学和定量纳米机械的研究. Uniqprobe针尖的高度一般为7微米,针尖尖端的曲率半径通常小于10纳米。NANOSENSORS的uniqprobes有几种不同的悬臂类型。 其中接触和软接触型只有一个单独的矩形悬臂。这两种探针的弹性系数很低,可以在空气或液体中, 对软性生物材料进行接触模式测量。BioAC型号的Uniqprobe有着三条尺寸不同的悬臂,分别适用于空气和液体中 动态测量模式的各种应用。BioT型的uniqprobe有两个大小不同的三角形的悬臂,分别用于空气和液体中的测量。这两种悬臂都可用于接触模式和动态 模式的测量。

视频介绍 – Akiyama原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™

视频介绍 – Akiyama原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ – 在 Youtube 和在 Youku http://v.youku.com/v_show/id_XNzA1Nzc4NDI4.html?from=y1.7-1.2 NANOSENSORS公司的吴烨娴博士在本视频中介绍了Akiyama原子力显微镜探针。Akiyama探针是NANOSENSORS公司生产的 AdvancedTEC产品系列的一个高端产品。它以发明者Akiyama的名字命名,是一种可用于动态测量模式的自感应自驱动型探针。 http://www.akiyamaprobe.com Akiyama探针基于一个集成了微加工硅悬臂梁 的石英音叉结构。这种独特的设计结合了石英音叉谐振的稳定性和硅悬臂梁优良的弹性系数为一体。 Akiyama探针的工作过程不需要光学信号检测设备也不需要额外的共振器,并且其只占用样品上方很小的空间。这些优点使得该探针可以完美地集成在新一代的扫描电子显微镜设备中。

视频介绍 – 铂硅原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –

视频介绍 – 铂硅原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ – 在 Youtube 和在  Youku http://v.youku.com/v_show/id_XNjkzNzU3ODky.html?from=y1.7-1.2 NANOSENSORS公司的吴烨娴博士在本视频中介绍了铂硅原子力显微镜探针。该种探针结合了优良的导电性,高耐磨性和超小型针尖半径为一体,专为导电或静电AFM成像设计。 与传统的导电型AFM针尖比较,它的质地更加地坚硬。和金刚石涂层的AFM针尖比较,铂硅探针的尖端半径只有1/5甚至1/6(~25纳米),而却有其 10倍的导电系数。而且这种探针的磨损率与硅和其他金属涂覆的探针相比显著降低。此外,硅化铂几乎耐受所有类型的化学药品。 http://www.nanosensors.com/Platinum_Silicide.pdf 此款铂硅AFM针尖可适用于 导电原子力显微镜 隧道原子力显微镜 扫描电容显微镜 开尔文探针力显微镜 和 静电力显微镜 需要注意的时,由于此类铂硅针尖的尖端有很高的长径比和很小的曲率半径,此类针尖不适用于表面受力很大的扫描扩展电阻显微镜

视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –

视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ – 在 Youtube: 和在  Youku http://v.youku.com/v_show/id_XNzMyMDg2MjQ4.html?from=y1.7-1.2 NANOSENSORS的Pointprobes是第一个商业化量产的硅原子力显微镜探针。从1991年进入市场开始,他们就成为了这一领域的标杆。 PointProbePlus探针在非接触模式和轻敲模式的应用中取得了巨大的成功,并且在此基础上发展出一系列更高端的AFM探针。 PointprobePlus是Pointprobe的增强版,它有着更为一致的针尖形状从而保证了更为可靠的成像结果。 而且针尖的尖端性能进一步提升,其半锥角达到了10度,而尖端半径小于7nm。 基于PointProbePlus针尖,我们提供一些特别定制的AFM探针 。 SuperSharpSilicon探针是在PointProbePlus探针的基础上,通过尖端锐化技术,使其针尖的曲率半径小于2nm。 该探针在特征尺度为几十纳米的样品表面,可以实现最高的分辨率。 High Aspect Ratio tips 高长径比探针是在PointProbePlus的基础上,通过聚焦离子束研磨,在针尖的尖端1到两微米形成超小的锥角。 它们是专为半导体应用中,沟槽或通孔的表征而设计的。…