Dr. Oliver Krause, product developer at NANOSENSORS™ is talking in this screencast about AFM probes for dynamic AFM with sub-nanometer amplitudes enabling imaging with atomic… Read More »NANOSENSORS™ Ultrastiff AFM Probes for Atomic Resolution
NANOSENSORS™ screencast on the service for Calibration for AFM Cantilevers, presented by Wolfgang Engl. Accurately determined cantilever properties are very important for quantitative force measurements.… Read More »Calibration service for AFM Cantilever
Product Screencast on the NANOSENSORS™ High Aspect Ratio Silicon AFM Probes by product developer Dr. Oliver Krause.
Read More »Product Screencast NANOSENSORS™ High Aspect Ratio Silicon AFM probes
视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ – 在 Youtube: 和在 Youku http://v.youku.com/v_show/id_XNzMyMDg2MjQ4.html?from=y1.7-1.2 NANOSENSORS的Pointprobes是第一个商业化量产的硅原子力显微镜探针。从1991年进入市场开始，他们就成为了这一领域的标杆。 PointProbePlus探针在非接触模式和轻敲模式的应用中取得了巨大的成功，并且在此基础上发展出一系列更高端的AFM探针。 PointprobePlus是Pointprobe的增强版，它有着更为一致的针尖形状从而保证了更为可靠的成像结果。 而且针尖的尖端性能进一步提升，其半锥角达到了10度，而尖端半径小于7nm。 基于PointProbePlus针尖，我们提供一些特别定制的AFM探针 。 SuperSharpSilicon探针是在PointProbePlus探针的基础上，通过尖端锐化技术，使其针尖的曲率半径小于2nm。 该探针在特征尺度为几十纳米的样品表面，可以实现最高的分辨率。 High Aspect Ratio tips 高长径比探针是在PointProbePlus的基础上，通过聚焦离子束研磨，在针尖的尖端1到两微米形成超小的锥角。 它们是专为半导体应用中，沟槽或通孔的表征而设计的。… Read More »视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –