Dr. Oliver Krause, product developer at NANOSENSORS™ is talking in this screencast about AFM probes for dynamic AFM with sub-nanometer amplitudes enabling imaging with atomic… Read More »NANOSENSORS™ Ultrastiff AFM Probes for Atomic Resolution
视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ – 在 Youtube: 和在 Youku http://v.youku.com/v_show/id_XNzMyMDg2MjQ4.html?from=y1.7-1.2 NANOSENSORS的Pointprobes是第一个商业化量产的硅原子力显微镜探针。从1991年进入市场开始，他们就成为了这一领域的标杆。 PointProbePlus探针在非接触模式和轻敲模式的应用中取得了巨大的成功，并且在此基础上发展出一系列更高端的AFM探针。 PointprobePlus是Pointprobe的增强版，它有着更为一致的针尖形状从而保证了更为可靠的成像结果。 而且针尖的尖端性能进一步提升，其半锥角达到了10度，而尖端半径小于7nm。 基于PointProbePlus针尖，我们提供一些特别定制的AFM探针 。 SuperSharpSilicon探针是在PointProbePlus探针的基础上，通过尖端锐化技术，使其针尖的曲率半径小于2nm。 该探针在特征尺度为几十纳米的样品表面，可以实现最高的分辨率。 High Aspect Ratio tips 高长径比探针是在PointProbePlus的基础上，通过聚焦离子束研磨，在针尖的尖端1到两微米形成超小的锥角。 它们是专为半导体应用中，沟槽或通孔的表征而设计的。… Read More »视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –